Каталог
Загрузки
Поиск по сайту
Тонкий диск для калибровки толщины STEP-WAFER |
Калибровочные диски Ocean Optics STEP-WAFER выполнены из кремний-диоксид кремния (Si-SiO2) и могут использоваться при измерениях толщины подложек, таких как кремниевые пластины или другие оптические подложки. Диск STEP-WAFER (Si-SiO2) имеет диаметр 100 мм и 5 ступеней толщины калибровочной пластины в диапазоне от 0 до 500 нм, или от 600 до 1100 нм. Он идеально подходит для использования в качестве эталона при измерении толщины тонких прозрачных слоев на различных подложках. Диск STEP-WAFER состоит из тонкой пластины из диоксида кремния на кремнии. Каждый шаг прозрачного слоя пронумерован и выгравирован на поверхности пластины. Каждый диск STEP-WAFER поставляется с калибровочным сертификатом, содержащем информацию по координатам X иY, ψ, δ, период (в мм.) и толщину (в мм.) . Пластины калибруются с помощью эллипсометра. Информация для заказа
|
Новое на сайте
- Комплект для измерения поглощения BUNDLE-FLAME-ABS
- Комплект для измерения поглощения BUNDLE-HDX-ABS
- Комплект для измерения поглощения BUNDLE-QEPRO-ABS
- Комплект для измерения флуоресценции BUNDLE-FLAME-FL
- Комплект для измерения флуоресценции BUNDLE-QEPRO-FL
- Комплект для ИК-спектрометрии BUNDLE-FLAME-NIR
- Комплект для ИК-спектрометрии BUNDLE-NIRQUEST-NIR
- Комплект для измерения протеина BUNDLE-HDX-BIO
Самое популярное
- Введение в спектроскопию для учебных лабораторий, оснащенных спектрометрами Ocean Optics
- Области применения для улучшения жизни 2015
- Интегрирующие сферы серий RT и RTC
- SpectraSuite: программная платформа для спектроскопии
- Интегрирующая сфера FOIS-1
- Определение оптического разрешения спектрометра
- Линейные перестраиваемые фильтры серии LVF
- Кюветы SpecVette
- Координатные столики Mikropack XYZ
- Универсальный держатель образцов для Рамановской спектроскопии OOA-HOLDER-RFA