Каталог
Загрузки
Поиск по сайту
Система для рефлектометрии тонких пленок NanoCalc |
Оптические свойства тонких пленок возникают из-за эффектов отражения и интерференции. Метрологическая система для рефлектометрии тонких пленок NanoCalc позволяет анализировать оптические слои толщиной от <10 нм до ~250 мкм. с разрешением до 0.1 нм. В зависимости от выбора программного обеспечения, вы можете анализировать однослойные или многослойные пленки менее чем за одну секунду, а также можете измерять толщину и удельный съем полупроводниковых пленок, нецарапающихся, твердых и антибликовых покрытий. Преимущества системы NanoCalc
Принцип действия Два наиболее распространенных способа измерения характеристик тонких покрытий - это измерение коэффициентов отражения/пропускания и эллипсометрия. В системе NanoCalc используется метод отражения и измерения количества света, отраженного от тонкого покрытия на различных длинах волн, падающего по нормали к поверхности образца. Поиск по величине n и k Анализируемое покрытие может содержать до 10 различных слоев. Слои и подложки могут быть металлическими, диэлектрическими, аморфными или представлять собой кристаллические полупроводники. Программное обеспечение NanoCalc включает в себя обширную библиотеку значений n и k для наиболее распространенных материалов. Вы можете самостоятельно редактировать записи библиотеки, или добавлять новые. Кроме того, вы можете определить типы материалов по формулам уравнений или дисперсии. Область применения Рефлектометрические системы NanoCalc для тонких пленок идеально подходят для локального измерения удельного съема материалов, а также для определения толщины оксидированных, SiNx, фоторезистивных и других полупроводниковых пленок. Системы NanoCalc также позволяют измерять антибликовые и нецарапающиеся покрытия, необработанные слои на подложках, таких как сталь, алюминий, латунь, медь, керамика и пластмассы. Также среди областей применения:
Выбор программного обеспечения Каждая метрологическая система NANOCALC требует наличия установленного программного обеспечения NANOCALC-1, или NANOCALC-10-N. Также для заказа доступны дополнительные модули, позволяющие осуществлять функции симуляции спектра, позиционирования и внешней синхронизации. Технические характеристики
Информация для заказа Системы NANOCALC:
Программное обеспечение для систем NANOCALC:
Дополнительные принадлежности для систем NANOCALC:
Дополнительная информация Дополнительную информацию по системам NanoCalс Вы можете найти на сайте интегратора KaPaTek. |
Новое на сайте
- Комплект для измерения поглощения BUNDLE-FLAME-ABS
- Комплект для измерения поглощения BUNDLE-HDX-ABS
- Комплект для измерения поглощения BUNDLE-QEPRO-ABS
- Комплект для измерения флуоресценции BUNDLE-FLAME-FL
- Комплект для измерения флуоресценции BUNDLE-QEPRO-FL
- Комплект для ИК-спектрометрии BUNDLE-FLAME-NIR
- Комплект для ИК-спектрометрии BUNDLE-NIRQUEST-NIR
- Комплект для измерения протеина BUNDLE-HDX-BIO
Самое популярное
- Введение в спектроскопию для учебных лабораторий, оснащенных спектрометрами Ocean Optics
- Области применения для улучшения жизни 2015
- Интегрирующие сферы серий RT и RTC
- SpectraSuite: программная платформа для спектроскопии
- Интегрирующая сфера FOIS-1
- Определение оптического разрешения спектрометра
- Линейные перестраиваемые фильтры серии LVF
- Кюветы SpecVette
- Координатные столики Mikropack XYZ
- Универсальный держатель образцов для Рамановской спектроскопии OOA-HOLDER-RFA